走査型プローブ顕微鏡は、材料の表面構造をナノメートルレベルの高分解能で観察することが出来る顕微鏡である。本研究では、SAICAS(Surface and Interface Cutting System)法と走査型プローブ顕微鏡を組み合わせて、ポリスチレン/ポリメチルメタクリレートのブレンドポリマー薄膜の構造を観察する技術を開発した。
著者:Hideki Sugihara, Kazuyuki Ohya, Hiroki Murase, Keiichi Akabori, Keiji Tanaka, Tisato Kagiyama, and Atsushi Takahara