サゴ澱粉の表面構造について研究を行った。AFMを用いてサゴ澱粉の表面の観察を行ったところ、表面は滑らかではなく、馬鈴薯澱粉の表面のように小さなもりあがった節で構成されているくぼみやしわが観察された。化学構造の証明としてXPSを使って電子状態を解析した。このようにAFM、XPSを用いた澱粉の表面構造の解析方法の有効性を見出した。
本人担当部分:研究のまとめに関わる。
共同発表者:T. Hatta, S. Nemoto, T.Hamanishi, K. Yamamoto, S. Takahashi and K. Kainuma
SAGO PALM, Vol.9, No.2, p.59